OF-100 光频域反射仪
近乎无盲区、亚毫米级空间分辨
OF-100 为js555888金沙新研制的光频域反射仪，基于线性调频相干探测原理，通过拍频信号 FFT 变换得到距离域反射曲线，实现近乎无盲区、亚毫米级空间分辨，可同时完成事件定位、回波损耗 RL、插入损耗 IL、光程长度测量；覆盖单芯、多芯 MPO/MT、光组件、硅光、CPO 封装内部光路检测，为研发、来料检验、失效分析提供完整测试解决方案。
产品详情
主要优势
- 一体化内置光学参考干涉腔
- 超高空间分辨率&近零盲区
- 回损测试具有 80dB 的高动态范围
- 支持跨多个链路/端口的批量采集与对比分析；支持机架式集成
- 通过 OSW 端口扫描实现多通道自动测量
- 可离线分析曲线，支持任意区域局部放大分析
主要应用
- 短光链路反射及故障定位
- 高速光互连器件检测
- 硅光/CPO/共封装光学封装分析
- 特种光组件与跳线研发验证
生产来料检验，可靠性验证
真正零测试盲区，亚毫米级超高空间分辨
- 标准 30m 量程下采样分辨率可达 10μm；70m 量程 20μm；
- 从仪器输出端面开始即可测量，无传统 OTDR 固有的起始盲区，可以分辨器件内部距离极近的耦合界面、相邻连接器反射点，实现“看透器件内部光路”的能力。
超高背向散射灵敏度与大动态范围
- 背向散射灵敏度可达 -130dB，回损动态范围最高 80dB；
- 可同时捕捉微弱瑞利散射基底与强菲涅尔反射峰；
- 插损测量分辨率 0.05dB，单端测试即可获取沿光纤分布式 IL、RL。
专业分析软件平台
- 可视化距离-反射曲线，自动识别宏弯、熔接点、连接器、断点各类事件；
- 用户自定义阈值，实现自动 Pass/Fail 判据，用于组件批量检验；
- 支持数据导出，提供自动化接口，适配实验室与产线自动化测试；
- 可同时解析反射、损耗等多维度曲线视图；
- 可离线分析曲线，支持任意区域局部放大分析。
性能参数
| 类型 | 参数 |
|---|---|
| 波长范围 | 1260~1340 nm |
| 最大测试长度 | ≥30 m / ≥70 m |
| 采样分辨率 | ≤10 μm / ≤20 μm |
| 双点分辨能力 | ≤2 × 采样间隔 |
| 波长分辨率 | ≤0.02 pm |
| 波长准确度 | ≤±1.5 pm |
| RL动态范围 | ≥80 dB |
| RL测量范围 | 0~-125 dB |
| 反射灵敏度 | ≤-130 dB |
| RL分辨率 | ≤0.05 dB |
| RL准确度 | ≤±0.10 dB |
| IL动态范围 | ≥18 dB |
| IL分辨率 | ≤0.05 dB |
| IL准确度 | ≤±0.10 dB |
| Group Delay准确度 | ≤±1 ps |
| 传统OTDR盲区 | 无传统 OTDR 盲区 |
| 数据通讯 | USB 3.0及以上 |
| 输出激光安全 | Class 1 |
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